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半导体器件雪崩耐量测试系统
ENX2020 雪崩耐量测试系统概述向半导体的接合部施加较大的反向衰减偏压时，电场衰减电流的流动会引起雪崩衰减，此时元件可吸收的
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2022-09-27 |
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二极管IGBT晶闸管浪涌电流测试仪
ENL3010 浪涌测试系统 ENL3010 浪涌测试系统 ，设备可输出17.7mS、80kA的电流，对被测器件进行浪涌电流试验；浪涌电流测试系统西
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2022-09-21 |
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IGBT功率循环测试系统
ENG1220 IGBT功率循环测试系统概述易恩电气ENG1220 IGBT功率循环测试系统测试方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9:2007及GB4023-
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2022-09-09 |
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晶闸管模块高温阻断测试仪
系统概述交流阻断（或反偏）耐久性试验是在一定温度下，对半导体器件施加阻断（或反偏）电压，按照规定的时间，从而对器件进行质
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2022-08-24 |
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IGBT高温反偏试验台（HTRB测试仪）
GBT高温反偏试验台（HTRB测试仪）设备简述IGBT高压反偏试验是在一定温度条件（125℃）下，按照规定的时间和电压，对IGBT施加反偏
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2022-08-09 |
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可控硅综合参数测试
概述本试验设备可对大功率SCR器件的电气特性参数进行测试，该测试系统是一套大电流、高电压的测试设备，对设备的电气性能要求高
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2022-08-01 |
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美国ST分立器件测试仪替代品
EN-2005B功率器件综合测试系统系统特征测试范围广（19总大类，27分类）升级扩展性强，通过选件可提升电压电流，和增加测试品种范
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2022-07-15 |
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易恩电气半导体分立器件测试系统
西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统，设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被
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2022-07-12 |
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